メーカー：HORIBA
レーザー回折／散乱式粒子径分布測定装置
型番：LA-920
仕様：
測定原理：Mie散乱理論
測定粒子径範囲：20nm～2000μm
測定時間：20秒（測定開始～結果表示）
光源：He-Neレーザ（632.8nm）, タングステンランプ(400nm)
検出器：リング状75分割Siフォトダイオード、Siダイオード
循環系：超音波プローブ　30W, 22.5kHz
使用温度：室温
必要試料量：フロー式セル使用；10mg～5g（分散媒200mL）
バッチ式セル使用；10mL（透過率75-90%）

送料は、下記メールアドレスまで別途ご確認ください。
お問い合わせ先：info@ehi.co.jp

こちらの商品は、納品後の保証期間を設けておりませんのでご了承ください。
中古品のため、現状有姿販売となります。
新品時の性能・機能を持ち合わせていない場合がございますので、都度ご確認ください。
ご注文受付後の流れ。
ご注文→現品の動作確認を実施→OK→受注確定→納期の連絡→出荷及びお届け。
動作確認を実施→NG→ご注文キャンセル。
不明な点がございましたら、お問い合わせください。